セラミックス
セラミックスの特性評価のためのX線分析
X線回折（XRD）は、結晶相組成と構造を研究するために最も一般的に使用される分析手法の1つです。分析結果は、セラミックスの特性に大きな影響を与える可能性があります。蛍光X線分光（XRF）も、セラミックスやガラス材料の元素分析に使用されています。
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