高分子&プラスチック

高分子の研究、開発、および生産品質管理において、蛍光X線分析（XRF）は、顔料、充填剤、難燃剤、安定剤などの添加剤（RoHS/WEEE規制に準拠したアンチモン、バリウム、臭素、カルシウム、クロム、銅、リン、チタン、亜鉛）の濃度を特定し、定量化することができます。さらに、多くのプラスチック高分子はX線回折（XRD）法によって識別・分析できる程度の秩序を持っています。XRDによって測定された結晶化度は、処理方法と相関する可能性があります。結晶系、格子定数、微細構造、および極図を通じた結晶学的配向の決定は重要です。ナノスケールの周期構造または結晶構造は、小角X線散乱（SAXS）および広角X線散乱（WAXS）によって調べることができます。リガクはすべての方法に対応した包括的な装置とサービスを提供しています。