PDF解析

PDF (二体分布関数) は、材料の結晶性に関係なく、散乱パターンから原子間距離と配位数に関する情報を抽出できます。

PDF解析の測定は、回折ピークだけでなく、粉末XRD測定ではバックグラウンドとして扱われる局所構造に起因するブロードな散乱強度（散漫散乱）も解析に利用するため、全散乱測定と呼ばれています。

全散乱測定のデータは、機器からの余分な散乱強度 (寄生散乱) が含まれないように工夫する必要があります。

サンプルからの全散乱強度のみを取得するためにガラスキャピラリーのみを測定し、また機器からの寄生散乱や蛍光X線を抑えることが重要です。

テスト測定には数分から 10 分かかります。 フルスケールの測定には、多くの場合約 4 時間かかります。 本格的なモデリング分析には最大 1 日かかる場合があります。 測定時間は、必要な分析と品質に応じて増減します。

SmartLab Studio II を使用した PDF解析 の詳細をご覧ください。