分光分析

    元素分析および化学分析

    分光学は、物質と電磁放射間の相互作用の研究する分野です。 歴史的に、分光法は、プリズムまたは格子によって、その波長に従って分散された可視光の研究を通して生みだされました。のちにその概念は、波長または周波数の関数としての放射エネルギーとの相互作用をすべて含むように大幅に拡張されました。 分光データは多くの場合、発光、吸収、またはラマンスペクトルといった、対象の応答が波長または周波数の関数としてプロットの形で得られます。

    蛍光X線分析装置(XRF)

    蛍光X線は、高エネルギーX線の照射によって励起された材料から出る、特徴的な「二次」(または蛍光)X線のことをいいます。 この現象は元素分析や化学分析、特に金属、ガラス、セラミックス、建築材料の調査、地球化学、法科学、考古学、美術品の研究に広く使われています。 リガクはさまざまなEDXRFおよびWDXRF分析装置を提供しています。

    携帯型ラマン分光装置

    ラマン分光法は、通常は可視域、近赤外域、または近紫外域のレーザーからの単色光の非弾性散乱であるラマン散乱を利用するものです。 レーザー光は、物質内の分子振動、フォノンまたは他の励起と相互作用し、その結果、レーザー光子のエネルギーが上下にシフトします。 エネルギーのシフト量は、物質内の振動モードに関する情報を与えます。 赤外分光法は、これに似ていますが補間的な情報をもたらします。 リガクは、さまざまなハンドヘルドラマン分光計装置を提供しています。

    分光分析

    アプリケーションノート

    以下のアプリケーションノートは、この分析手法に関連しています。

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