Skip to main content

過去のWebinar

リガク - Fraunhofer IISBジョイントセミナー 『 XRTmicronによるトポグラフィ測定 』

概要:X線トポグラフイメージングステム、XRTmicronを使用したトポグラフィ測定についてご紹介いたします。

Date/time (JST)
Presenter
小林信太郎 (株式会社リガク X線機器事業部 SBU粉末・薄膜解析 専用機グループ )
Christian Kranert (Fraunhofer IISB)

最新分析セミナー『低バックグラウンド多次元検出器 XSPA-400 ERのご紹介』(再講演)

高計数・高いエネルギー分解能による低バックグラウンド・高S/N比を実現した最新多次元検出器「XSPA-400 ER」の特長と測定例をご紹介します。
Date/time (JST)
Presenter
山本 泰司(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)

単結晶X線構造解析セミナー(バイオ医薬品)『 あらゆるモダリティーに対応可能な革新的分子観察プラットフォーム 』

溶液中で柔軟に構造変化をする分子を観察したいと思う事はないでしょうか?新技術を結集した“分子観察装置”は、柔軟な分子の変化の観察が可能です。柔軟な分子の代表例であるモノクロナール抗体の構造変化及び経時変化や中分子環状ペプチドの結晶構造とは異なると溶液中分子の姿について紹介する。
Date/time (JST)
Presenter
松本 崇(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)

電池セミナー『X線回折装置のデモンストレーション』(再講演)

本オンラインワークショップでは、X線回折装置によるサンプルの測定から解析までの操作についてご紹介します。 測定・定性分析・リートベルト解析に加えて、電池分析に関連する製品についてご紹介します。
Date/time (JST)
Presenter
笠利 実希(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)

X線応力セミナー『 製品の長寿命化・高耐久化・高品質化へのアプローチ(実用編)-正確な応力測定のコツ教えます- 』

残留応力分析は、製品の耐久性向上・疲労寿命予測・故障解析・製造工程の最適化に関わる因子として、開発/製造現場では欠かすことのできない評価項目となっています。本セミナーは配信済みの「基礎編」の続編として、さらに具体的な測定・解析に踏み込んだ「実用編」になります。
Date/time (JST)
Presenter
小西 真晶(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)