リガク - Fraunhofer IISBジョイントセミナー 『 XRTmicronによるトポグラフィ測定 』
概要:X線トポグラフイメージングステム、XRTmicronを使用したトポグラフィ測定についてご紹介いたします。
Date/time (JST)
Presenter
小林信太郎 (株式会社リガク X線機器事業部 SBU粉末・薄膜解析 専用機グループ )
Christian Kranert (Fraunhofer IISB)