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Past Rigaku Webinars

MicroED(電子線単結晶構造解析) ワークショップ『 日本電子とリガクが実現した極微小結晶における電子線構造解析プラットフォームの実機デモ 』

概要:2020年5月25日から始めた日本電子とリガクの電子線回折における協業が、最初の製品をご紹介できるステージに近づいております。今回のワークショップでは我々が開発した実機を使用してライブデモを実施します。X線回折ではスタンダードとなっているCrysAlisProをベースに新開発したソフトウェアプラットフォームを用いてどのように測定から解析までを行なうことが出来るのかを紹介します。

Date/time (JST)
Presenter
神田 浩幸(株式会社リガク X線機器事業部 SBU ROD 戦略ビジネスユニットマネージャー)
奥西 栄治(日本電子株式会社 EM事業ユニット EM事業企画部 部長)
山野 昭人(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター 主幹技師)

リガクWebinarシリーズ 蛍光X線分析セミナー『 蛍光X線分析法における試料調製:液体試料 』

蛍光X線分析法における試料調整法の概要、および液体試料の試料処理における調整法やその際の注意点について解説します。

講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45

Date/time (JST)
Presenter
円子 友理(株式会社リガク X線機器事業部 SBU WDX 大阪分析センター)

リガクWebinarシリーズ 粒子径分布測定セミナー『 小角X線散乱の解析ソフトMRSAXSを用いた粒子径分布解析 』

概要:小角X線散乱の解析ソフトウェアMRSAXSを用いてモデルフィッティングによる粒子径分布解析の手順をナノ粒子の解析例を踏まえてご紹介します。

Date/time (JST)
Presenter
尾本 和樹(株式会社リガク X線機器事業部)

リガクWebinarシリーズ X線回折入門セミナー『 Rietveld定量の基礎とSmartLab Studio IIを用いた解析例 』

概要:Rietveld法を用いた定量分析は、多成分系試料に対してスタンダードレスで迅速な評価が可能なため、研究開発や品質管理の場で広く使用されています。本セミナーでは、Rietveld法の基礎の説明とSmartLab Studio IIを用いた様々な試料の解析例の紹介を行います。

Date/time (JST)
Presenter
葛巻 貴大(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)

リガクWebinarシリーズ 熱分析テクニカルセミナー『 Technical Seminar in Thermal Analysis focusing on ceramics, metals and other materials 』

This webinar will focus on general methods of thermal analysis in ceramics, metals, battery and other materials using STA, DSC evolved gas analysis evolved gas analysis system.

講義:14:30~15:00
質疑応答:15:00~15:15

Date/time (JST)
Presenter
Dr. Lani L. Celiz(株式会社リガク 熱分析事業部)