AppNote TA3004: MLCCの酸素欠陥評価
積層セラミックコンデンサ(MLCC)は携帯電話をはじめとする多くのエレクトロニクス機器に搭載されています。今後も5G通信機器、電気自動車をはじめとする新たな市場での需要が予想され、薄層化・多層化による小型化・大容量のトレンドは続くと思われます。これらの高性能化と併せてMLCCの寿命についても保証する必要があり、寿命を設計する上で重要な酸素欠陥の挙動やその量を調べることが不可欠です。ここでは熱刺激電流(Thermally Stimulated Current, TSC)測定による酸素欠陥の評価方法を紹介します