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WPPF 法による混合試料の定量分析

AppNote B-XRD1001: WPPF 法による混合試料の定量分析

 

WPPF(Whole Powder Pattern Fitting; 全パターンフィッティング)法は、格子定数の情報をもとに、比較的広い角度範囲をプロファイルフィッティングする手法です。WPPF法を混合試料に適用すると、各回折ピークの角度と強度が精密化され、含有結晶相の回折パターンのスケール因子が求められます。スケール因子とデータベースのRIR(Reference Intensity Ratio)値から、各相の重量比を簡便に算出することが可能です。ここでは、高速1次元検出器を搭載したデスクトップX線回折装置を用いて高強度の回折プロファイルを短時間で測定し、WPPF法により定量分析した例を示します。

リガクのX線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

小型X線回折装置 MiniFlex XpC

材料品質管理に最適な小型X線回折装置

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

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X線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio II

測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア