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X線回折装置による高分子フィルムの結晶方位解析

AppNote B-XRD1024: 極点測定による高分子フィルムの結晶方位解析

 

極点測定による高分子フィルムの結晶方位解析

ポリエチレンテレフタレート(PET)やポリプロピレン(PP)、ポリエチレン(PE)などのフィルム状高分子材料の特性は、結晶方位の偏りやその度合いと相関があります。これらのフィルム状高分子の分析に、ODF ( CrystalliteOrientation Distribution Function)解析を利用することで、結晶方位{hkl}<uvw>の偏りやその度合いを精度良く算出することができます。

リガクのX線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

小型X線回折装置 MiniFlex XpC

材料品質管理に最適な小型X線回折装置

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

X線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio II

測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア