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2 次元検出器を用いた小角X 線散乱法による 天然ゴムの伸長結晶化の観察

AppNote B-XRD1028:2 次元検出器を用いた小角X 線散乱法による 天然ゴムの伸長結晶化の観察

 

高分子やゴムの分子は階層構造をなし、その中にはÅスケールの結晶構造(ミクロ構造)とnmスケールの長周期構造(マクロ構造)が含まれます。加熱・延伸・磁場などの外的要因を変化させながら、結晶構造と長周期構造の両方を解析することで新たな知見が得られます。X線回折法はおもに結晶構造を対象にしていますが、2θが5˚以下の小角領域から長周期構造の周期を解析できます。さらに、2次元検出器を用いることで、材料に対する結晶構造および長周期構造の配向状態も確認できます。ここでは天然ゴムの伸長倍率を変えながら2次元回折像を測定し、ミクロ構造およびマクロ構造の変化を観察しました。

リガクの小角散乱測定装置(SAXS)

ナノスケールX線構造評価装置 NANOPIX

小角分解能(Qmin:~0.02nm-1)小角X線散乱測定装置。

デスクトップ小角X線散乱測定装置 NANOPIX mini

粒子計測に特化し卓上型の高い小角分解能を持ったシステム。

生体高分子用X線小角散乱装置 BioSAXS-2000

小角X線散乱(SAXS)Kratky カメラシステム。