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小角X線散乱法による金属ナノ粒子の粒径分布評価

AppNote B-XRD1030: 小角X線散乱法による金属ナノ粒子の粒径分布評価

 

金属ナノ粒子はサイズ効果によって、バルク体とは異なる性質を示します。このとき、粒子の大きさやそのばらつきを均一化させることにより、優れた特性を発揮させることができます。ナノサイズレベルの粒子の大きさとばらつきを調べるためには透過電子顕微鏡(TEM)写真を用いて観測することが一般的に知られた方法ですが、平均構造や粒子径の分布などを知るためには多くの時間と労力を要します。X線小角散乱法を用いれば、平均構造(粒径分布)を数分~1時間程度で知ることができます。

リガクのX線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。