AppNote XRD1071: シェラー法による触媒材料の結晶子サイズ解析
シェラー法による触媒材料の結晶子サイズ解析
シェラー法は、粉末試料の結晶子サイズを評価する代表的な手法です。シェラー法では結晶の歪による回折ピークの広がりを無視できると仮定し、回折ピークの格子面方向の結晶子サイズがそのピークの半値幅と反比例するという関係から結晶子サイズを計算します。ここでは、ナノサイズの触媒材料のＸ線回折プロファイルを測定し、シェラー法を用いて結晶子サイズを評価しました。
シェラー法は、粉末試料の結晶子サイズを評価する代表的な手法です。シェラー法では結晶の歪による回折ピークの広がりを無視できると仮定し、回折ピークの格子面方向の結晶子サイズがそのピークの半値幅と反比例するという関係から結晶子サイズを計算します。ここでは、ナノサイズの触媒材料のＸ線回折プロファイルを測定し、シェラー法を用いて結晶子サイズを評価しました。
