2次元回折像には結晶粒子の状態が反映され、回折像がライン状に連続していれば粒子が微細であり、スポット状に不連続であれば粒子が粗大であると考えることができます。従来の結晶相同定は2次元回折像から変換した1次元プロファイルのみで行われ、2次元回折像に含まれる粒子の情報は切り捨てられていました。Ｘ線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio IIでは、1つの測定データを2次元回折像と1次元プロファイルに展開し、これら２つを比較しながら解析を進めます。2次元回折像の視覚的な確認に加え、2次元回折像から結晶粒子の特徴を抽出して結晶相検索に利用することで、結晶相同定を容易に進めることができます。