DD（Direct Derivation）法による3成分試料の定量分析

粉末Ｘ線回折法による定量分析は長らく、純物質や標準物質を用いて定量既知の試料を調製し検量線を作成する検量線法によって行われてきました。その後、パーソナルコンピューターを用いて結晶構造から計算する、検量線不要の定量分析が可能になりました。しかし、結晶構造が既知でなければならず、分析可能な物質には限りがありました。本方法は、測定プロファイルから得られる各成分の回折線ピークの総積分強度と化学組成だけで定量値が得られる方法です。