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DD(Direct Derivation)法による3成分試料の定量分析

AppNote XRD1111: DD(Direct Derivation)法による3成分試料の定量分析

 

粉末X線回折法による定量分析は長らく、純物質や標準物質を用いて定量既知の試料を調製し検量線を作成する検量線法によって行われてきました。その後、パーソナルコンピューターを用いて結晶構造から計算する、検量線不要の定量分析が可能になりました。しかし、結晶構造が既知でなければならず、分析可能な物質には限りがありました。本方法は、測定プロファイルから得られる各成分の回折線ピークの総積分強度と化学組成だけで定量値が得られる方法です。

リガクのX線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。