Skip to main content

BVS法によるイオン価数の評価

AppNote XRD1113: BVS法によるイオン価数の評価

 

結晶構造のイオン価数は材料特性のメカニズム理解や新しい材料のデザインのための重要な結晶構造パラメーターの一つです。イオン価数を実験的に求める方法にはXAFS(X-ray Absorption Fine Structure)、XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)、メスバウアーなどの分光法、Rietveld法に基づいたMEM(Maximum Entropy Method)法、BVS(Bond Valence Sum)法があります。この中でもBVS法は、粉末材料のRietveld解析で求めた結合距離を用いてカチオンの平均価数を求める手法で、実験室系のX線回折装置を使用して簡便に行うことができます。ここでは、2種類のマンガン酸化物のイオン価数を評価した例を紹介します。

リガクのX線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。