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Cu線源とデスクトップX線回折装置を用いた鉄酸化物の低バッググラウンドプロファイル測定

AppNote XRD1127: Cu線源とデスクトップX線回折装置を用いた鉄酸化物の低バッググラウンドプロファイル測定

 

Cu線源は安価で、優れた熱伝導性を有する銅を利用しているため、効率よくX線を発生します。特に、Cu線源の特性線Kα1線の波長はd = 0.82 Å (2θ = 140°)の格子面間隔まで観測することができるため、原子レベルでの結晶構造観察にも適しています。これらの長所がある一方、Feを豊富に含む化合物はFe原子から生じる蛍光X線によりバッググラウンドが高くなるため、微弱な回折ピークがバッググラウンドに埋没してしまうという問題があります。ここでは、酸化鉄を用いて、Cu線源でも低バッググラウンドの回折プロファイルを測定できる、エネルギー分解能の高い検出器の測定例をご紹介します。

リガクのX線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。