Cu線源とデスクトップＸ線回折装置を用いた鉄酸化物の低バッググラウンドプロファイル測定

Cu線源とデスクトップＸ線回折装置を用いた鉄酸化物の低バッググラウンドプロファイル測定

Cu線源は安価で、優れた熱伝導性を有する銅を利用しているため、効率よくＸ線を発生します。特に、Cu線源の特性線Kα1線の波長はd = 0.82 Å （2θ = 140°）の格子面間隔まで観測することができるため、原子レベルでの結晶構造観察にも適しています。これらの長所がある一方、Feを豊富に含む化合物はFe原子から生じる蛍光Ｘ線によりバッググラウンドが高くなるため、微弱な回折ピークがバッググラウンドに埋没してしまうという問題があります。ここでは、酸化鉄を用いて、Cu線源でも低バッググラウンドの回折プロファイルを測定できる、エネルギー分解能の高い検出器の測定例をご紹介します。