2次元検出器を用いた微小角入射広角Ｘ線散乱法によるポリプロピレン製品の配向状態評価

微小角入射広角X線散乱法（Grazing Incidence Wide Angle X-ray Scattering method、以下GI-WAXSと略す）は、試料表面に浅くX線を入射し、試料表面近傍からの回折X線を効率的に検出する手法です。GI-WAXSは、基板上の薄膜や、裏面に金属を蒸着した高分子フィルムのように、透過配置による評価が困難な材料に対しても適用可能です。Apertureスリットを搭載したアタッチメントと2次元検出器を組み合わせると、ライン光学系の汎用X線回折装置でも、回折線の分離のよい2次元回折像が得られます