AppNote B-XRF3005: 卓上型全反射蛍光X 線分析装置 NANOHUNTER II -極微量粉末の直接分析-
全反射蛍光X線分析法（TXRF）は、試料すれすれに入射したX線により表面近傍元素を効率良く励起でき、かつバックグラウンドの原因となる散乱X線がほとんど発生しない測定手法です（図1）。ガラス基板等の試料は水平に保持されるため、接着剤無しで粉末試料等を乗せて測定することが可能です。
全反射蛍光X線分析法（TXRF）は、試料すれすれに入射したX線により表面近傍元素を効率良く励起でき、かつバックグラウンドの原因となる散乱X線がほとんど発生しない測定手法です（図1）。ガラス基板等の試料は水平に保持されるため、接着剤無しで粉末試料等を乗せて測定することが可能です。
