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エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE  -シリコーン被膜の定性分析-

AppNote B-XRF3014: エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE  -シリコーン被膜の定性分析-

 

ラベル・包装・キッチン用品などに用いられる材料には、剥離性や撥水性の向上等を目的としてシリコーン(ケイ素樹脂)に代表されるSi化合物が塗布されることがあります。このような製品の製造現場では、樹脂の塗布量が不足した不良品が出荷されてしまうことを防ぐための管理分析として蛍光X線分析法が広く利用されています。今回、エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE を用いて種々の材料上に塗布されたSiの分析を行った例をご紹介します。

リガクのエネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)分析装置

次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置

更に進化した元素分析ツール

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC

NaからUまで定量分析(検量線法)ができます。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC+ QuantEZ

半定量分析等,高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル.。
 

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

大型ガラス基板上のコーティング皮膜やインライン生産中の測定対象を非破壊計測できるヘッドを提供します。