AppNote B-XRF3017: エネルギー分散型蛍光X 線分析装置NEX DE -陶磁器着色部の小径分析-
ガラスの品質管理において、不純物は着色、強度低下の要因となり得るため、原料の受入れ段階から管理されています。運び込まれた原料を次の工程へ円滑に進めるために、短時間での分析が求められます。蛍光X線分析法は試料処理が容易、かつ短時間で分析できるため原料の受け入れ管理用途に適しています。NEX DEは、各エネルギー領域で最適化された一次フィルターの構成により高範囲の重金属に対して感度よく測定できます。試料はそのまま専用のカップに充填して10 ppmレベルで判別・測定できます。