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卓上型TXRF 装置 NANOHUNTER II  -廃水中の微量有害元素の分析-

AppNote B-XRF3023: (Q0621ja) 卓上型TXRF 装置 NANOHUNTER II  -廃水中の微量有害元素の分析-

 

工場や事業所からの排水には、Cd、As、Pbなどの有害金属元素について、排水基準が定められています。廃水に含まれる様々な有機物や無機塩は微量元素分析の妨害となるため、誘導結合プラズマ発光分析法(ICP-OES法)などでは、酸分解や脱塩などの試料調製が必要となります。これに対して、全反射蛍光X線分析法(TXRF法)はICP-OES法などと比べ、マトリックスの影響を受けにくい測定が可能です。ここでは、TXRF法による廃水標準物質中の微量有害元素の分析例をご紹介します。

リガクのTXRF製品

卓上型全反射蛍光X線分析装置 NANOHUNTER II

液体の高感度超微量元素分析を可能にします。 

全反射蛍光X線分析装置 TXRF 3760

~200mmウェーハのNa~Uまでの汚染元素を極微量で分析。

全反射蛍光X線分析装置 TXRF-V310

遷移金属で106atoms/cm2 レベルの検出下限。

全反射蛍光X線分析装置 TXRF 310 Fab

TXRF分析は、すべての製造工程における汚染を測定。