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結晶子サイズと格子歪

粒子サイズと粒子形状

XRD/SAXSによる粒径、細孔径の決定

ナノ粒子やナノ結晶材料の物理的および化学的性質、たとえばレオロジー、表面積、陽イオン交換容量、溶解度、反射率などは、粒子のサイズ、形状および構造の歪みによって強く影響されます。結晶子サイズは、結晶単位胞内の特定の平面反射に関連するX線回折(XRD)パターン中のピークの幅を測定することによって見積もることができます。結晶子サイズは、個々のピークの半値幅(FWHM)と逆比例関係にあります。つまりピークが狭ければ狭いほど、結晶子サイズは大きいことになります。 これは、相内の個々の微結晶ドメインの周期性のためX線ビームの回折を強め、その結果、高く狭いピークが生じることによります。 結晶に欠陥がなく周期的に配置されている場合、X線ビームは試料の複数の層を通しても同じ角度に回折されますが、結晶がランダムに配置されているか、または周期性が低い場合、ピークはより広いものとなります。

リガクの NANOPIX mini は、品質管理(QC)と研究開発(R&D)の両方の用途に自動ナノ粒子サイズ分布分析ができるように設計された、世界初のデスクトップ小角X線散乱(SAXS)システムです。 ナノ粒子サイズ、サイズ分布、および粒子形状は、SAXSから得られる重要な情報です。 試料は、溶液、スラリーから固体プラスチック、ゴムまたはポリマーなどさまざまなものに対応します。

リガクの関連装置


X線回折装置(XRD)

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。

小角散乱測定装置(SAXS)

ナノスケールX線構造評価装置 NANOPIX

小角分解能(Qmin:~0.02nm-1)小角X線散乱測定装置。

デスクトップ小角X線散乱測定装置 NANOPIX mini

粒子計測に特化し卓上型の高い小角分解能を持ったシステム。

検出器

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 HyPix-3000

粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで対応。

アプリケーション・ノート

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XRD, SAXS

SAXS