AppNote TA7002: 有機 EL デバイスの劣化機構の解明 -熱刺激電流による電子トラップの解析-
熱刺激電流測定(Thermally Stimulated Current :TSC)は、試料に電界を加えることにより試料内部や表面および界面に存在する電荷トラップを注入キャリアで蓄積させ、昇温過程でのトラップサイトからの熱放出(脱トラップ)現象で生じる熱刺激電流を検出する測定手法です。一般的な無機半導体材料のみならず、有機電子材料の電荷トラップの測定が可能であり、有機ELデバイスの有機層内部や絶縁層近傍の電荷トラップを検出する手法として有用です。