AppNote XRF1036: Supermini200による残分推定機能を持つ SQX 散乱線FP 法によるスクリーニング分析
ファンダメンタルパラメータ（FP）法で計算される理論X 線強度を用いた半定量分析は、標準試料が不要という点で成分未知の試料に対するスクリーニング分析に適した手法です。FP 法による理論強度計算は原理的に試料に含まれるすべての元素情報を必要とします。このため蛍光X 線で分析の困難な水素などの軽元素（非測定成分）を多く含む試料の分析の際にはこれらの元素と含有量を別途もとめて固定値として取り扱うか、残分（バランス成分）として計算する必要がありました。
