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Supermini200による残分推定機能を持つ SQX 散乱線FP 法によるスクリーニング分析

AppNote XRF1036: Supermini200による残分推定機能を持つ SQX 散乱線FP 法によるスクリーニング分析

 

ファンダメンタルパラメータ(FP)法で計算される理論X 線強度を用いた半定量分析は、標準試料が不要という点で成分未知の試料に対するスクリーニング分析に適した手法です。FP 法による理論強度計算は原理的に試料に含まれるすべての元素情報を必要とします。このため蛍光X 線で分析の困難な水素などの軽元素(非測定成分)を多く含む試料の分析の際にはこれらの元素と含有量を別途もとめて固定値として取り扱うか、残分(バランス成分)として計算する必要がありました。

リガクのWDXRF製品

波長分散小型蛍光X線分析装置 Supermini200

高出力200Wで広範囲なアプリケーションに対応

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IVi

下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

(Be)から(Cm)までの主要元素および微量元素の迅速な定量。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus III+

上面照射方式で粉末試料も安心、生産管理分析に威力を発揮。

多元素同時蛍光X線分析装置 Simultix 15

高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置。

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus 400

大径試料(φ400mm×50mm)をそのまま、多試料にも対応。

卓上波長分散蛍光X線分析計 Mini-Zシリーズ

特定の単一元素の分析用WDXRF分析装置。

蛍光X線硫黄分分析計 Micro-Z ULS

ディーゼル、ガソリン、その他超低レベル硫黄分析用に設計。

波長分散型蛍光X線塩素分分析計
Micro-Z CL

石油製品中の塩素の高感度分析ができる卓上波長分散型蛍光X線分析装置

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

懸濁液も測定可能なオーバーフロー型容器を搭載した、蛍光X線方式による液中の元素濃度を計測できるシステムです。