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NEX QC による 紙・プラスチック上のSi コーティング量の分析

AppNote XRF3009: NEX QC による 紙・プラスチック上のSi コーティング量の分析

 

剥離紙や粘着テープの接着部を剥がれやすくするためのコーティング剤や、食品や様々な材料の酸化を防止するための包装のコーティング剤といった用途でSi が使用されています。これらの材料にSi を塗布するプロセスで、Si 塗布量は製品の性能を決定するため、常に管理する必要があります。多量に塗布されるとSi が不必要に浪費され、また、少ないと製品の性能を満たすことができません。

エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX QC(ネックス・キューシー)は、シンプルな操作で、Si コーティング量が分析でき、最小限のコストで信頼性の高い品質管理を行うことができます。

リガクのエネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)分析装置

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC

NaからUまで定量分析(検量線法)ができます。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX CG

環境分析や産業廃棄物、リサイクル原料等の広範囲に対応。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC+ QuantEZ

半定量分析等,高機能ソフトウェアを搭載したPCモデル.。
 

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。

各種金属めっきやコーティング皮膜の付着量 ・厚みを計測することができます。

大型ガラス基板上のコーティング皮膜やインライン生産中の測定対象を非破壊計測できるヘッドを提供します。