化合物に対する元素分析／相分析
物質の組成、構造、性質、振る舞い、および他の物質との反応に伴う変化は、材料の重要な性質といえます。化学の基本単位である原子の同定、複数の元素が化学結合で結びついてできた純物質である化合物の同定、また、同一の化合物であっても異なる温度圧力範囲ごとに構造の異なる相の分析など、Ｘ線は物質のさまざまな性質を調べるために役立ちます。蛍光Ｘ線装置(XRF)によって、物質の主成分およびトレース元素に対する元素分析を行うことができます。また、Ｘ線回折装置(XRD)により、結晶構造の決定と相分析、定量分析が可能です。他にもさまざまなＸ線解析手法があり、粉末、個体、液体、ペースト状、薄膜、単結晶など、さまざまな形態の試料の分析が可能になっています。リガクは、学術研究および産業アプリケーションの両分野で、化合物の組成や構造情報を調べるさまざまなＸ線分析機器を提供しています。
アプリケーション・ノート
関連するアプリケーションノートをご紹介します
熱分析装置
工業用Ｘ線イメージング装置
発生ガス分析装置
発生ガス分析装置, 熱分析装置
Ｘ線回折装置(XRD)
リガクの関連装置
波長分散蛍光Ｘ線分析装置
単結晶X線構造解析 低分子関連装置
Ｘ線回折装置(XRD)
ソフトウェア製品
エネルギー分散蛍光Ｘ線分析装置
検出器
単結晶X線構造解析 生体高分子関連装置
熱分析装置
光学素子
発生ガス分析装置
熱刺激電流測定システム
TS-POLARはフェムトアンペア（fA=10-15A）オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置（Thermally Stimulated Current：TSC）です。
