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ナノ材料

ナノテクノロジー

ナノスケールキャラクタリゼーション用のXRD、XRR、SAXS

ナノテクノロジーは、生物学、化学、物理学、工学などの幅広い分野にまたがっているという点において非常にユニークな分野です。 ある対象がナノテクノロジーに分類される理由は、一般的に、構造内に見られる寸法であり、対象 材料そのもの、またはその成分が10億分の1(10-9)メートルのオーダーである場合にナノテクノロジーの対象とされます。このため、半導体デバイスからナノ粒子まで、これらの研究開発には構造内の原子間距離や分子間距離の正確な測定が欠かせないものとなっています。 X線の波長はナノ構造のサイズと同じスケールであるため、X線回折(XRD)および関連技術はナノテクノロジー研究者にとっての主要なツールとなっています。 X線反射率測定法(XRR)では、膜厚、ラフネス、密度を決定できます。 高分解能X線回折は、膜厚、ラフネス、化学組成、格子間隔、応力緩和などを測定することができます。 また、X線散漫散乱は、非等方的な構造周期性や、歪、密度、空孔の存在による構造揺らぎを調べるために使用されます。 インプレーン斜入射回折は、非常に薄い有機膜や無機膜の膜面と垂直な結晶面間の相関関係、および深さ方向のプロファイリングを調べるために使われます。 最後に、小角X線散乱(SAXS)は、固体または溶液中に存在するナノ粒子のサイズ、形状、分布、および配向を決定することができます。 リガクはその技術と専門知識により、ナノテクノロジー用途向けの多数のX線回折製品を提供いたします。

リガクの関連装置


X線回折装置(XRD)

デスクトップX線回折装置 MiniFlex

卓上タイプの高性能多目的粉末回折分析装置。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab

装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現。

全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載。

試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

あらゆる用途のための高性能、多目的XRDシステム。

小角散乱測定装置(SAXS)

ナノスケールX線構造評価装置 NANOPIX

小角分解能(Qmin:~0.02nm-1)小角X線散乱測定装置。

デスクトップ小角X線散乱測定装置 NANOPIX mini

粒子計測に特化し卓上型の高い小角分解能を持ったシステム。

熱分析装置

示差熱-熱重量同時測定装置

重量変化と吸熱・発熱反応の測定ができる熱分析装置です。

 

熱機械分析装置 

荷重による物質の変形を温度の関数として測定する熱分析装置です。

 

示差走査熱量計
材料の融点などの反応温度や反応エネルギーを簡単に測定できる熱分析装置です。

横型膨張計

試料内に発生する熱膨張・収縮の変化量を再現性良く検出する熱分析装置です。

水蒸気雰囲気示差熱天秤

水蒸気雰囲気で容易にTG-DTA測定が可能な熱分析装置。

 

示差熱天秤-フーリエ変換赤外分光分析複合システム

示差走査熱量計

微小なピークも見逃さない低ノイズも実現した熱分析装置です。

示差熱-熱重量同時測定装置

試料観察機能付き差動型示差熱天秤

 

試料観察示差走査熱量計
熱分析を実行しながら視覚的に試料変化を観察可能な熱分析装置です。

Thermo plus EVO2ソフトウェア
Thermo plus EVO2シリーズ装置の測定・解析ソフトウェア

高温DSC
1500℃までの高温測定

熱伝導率測定装置
粉末・ゲル・液体・固体試料の熱伝導率が簡単に測定できる熱分析装置です。

発生ガス分析装置

示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム

発生ガスを高精度に質量分析。分子を壊さずにそのまま計測できる熱分析装置です。

示差熱天秤-ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定システム

熱分析だけでは判断が困難な化学反応情報を、同時に高感度測定できる熱分析装置です。

熱刺激電流測定システム

TS-POLARはフェムトアンペア(fA=10-15A)オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置(Thermally Stimulated Current:TSC)です。

試料観察型示差熱天秤-ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定システム

試料観察をしながらTG-GCMS測定