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X線回折法によるセメントの分析

Autumn 2020, Volume 51, No.2
10-17
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大渕 敦司(Rigaku Americas Corporation), 葛巻 貴大, 笠利 実希(株式会社リガク)

セメント中の主要成分の同定とRietveld 解析を組み合わせることで定量分析が 可能となることを紹介

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