Skip to main content

粉末X線回折法 基礎講座 第2 回 質の高いデータを取得するための装置構成の選択

Autumn 2020, Volume 51, No.2
18-25
Image
大森 雅志(株式会社リガク)

質の高いデータを得るための測定条件である X線発生源の選択、光学系の選択、 入射および受光光学系の条件設定、検出器条件の設定関して説明

Rigaku Journal article pdf