蛍光X線分析法における試料調整法の概要、および粉末試料の試料処理における調整法やその際の注意点について解説します。
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
Presenter
高橋 学人(株式会社リガク X線機器事業部 SBU WDX 東京分析センター)
Date/time (JST)
蛍光X線分析法における試料調整法の概要、および粉末試料の試料処理における調整法やその際の注意点について解説します。
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45