Skip to main content

リガクWebinarシリーズ 薄膜評価セミナー『 X線トポグラフィによる単結晶基板材料の評価 』

化合物半導体などで用いられている単結晶基板の評価方法としてX線トポグラフィを中心にご紹介します。

講義:15:00~15:30
質疑応答:15:30~15:45

Presenter
小林 信太郎(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
Date/time (JST)