概要：材料の分析や開発には欠かせない手法の一つであるＸ線回折法の原理および測定・解析例を紹介する。また最新の測定事例として2次元検出器を使用したアプリケーションも併せて解説する。
Presenter
大森 雅志 （株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
笠利 実希 （株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
Date/time (JST)
内 容
13:00 ～ 13:05 ご挨拶と講習会の流れについて
13:05 ～ 14:30 基礎編講義 （14:20 ～ 14:30 質疑応答）
講師 : 笠利 実希 （株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
Ｘ線回折法の原理と測定データに影響を及ぼす要因についての解説と様々な定性分析例の紹介を行う。
14:30 ～ 14:40 休憩
14:40 ～ 16:00 応用編講義 （15:50 ～ 16:00 質疑応答）
講師 : 大森 雅志 （株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
Ｘ線回折法で測定できることを具体的な解析事例 ( リートベルト解析・残留応力・小角 X 線散乱法等 ) を挙げながら解説する。