Ｘ線回折アプリケーションノートが掲載されました。
・B-XRD2034 ロッキングカーブ測定による III-V 族窒化物薄膜のツイスト幅評価
https://japan.rigaku.com/ja/applications/b-xrd2034
・B-XRD2035 III-V 族窒化物薄膜のチルト幅・ツイスト幅の 試料面内分布評価
https://japan.rigaku.com/ja/applications/b-xrd2035
・B-XRD2036 高速逆格子マップによるIII-V 族窒化物薄膜の 結晶方位の乱れた成分の検出
https://japan.rigaku.com/ja/applications/b-xrd2036