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XtaLAB Synergy-R

 

2波長線源PhotonJet-DWを搭載。波長の異なる線源を1台のシステムに搭載したXtaLAB Synergyパッケージの最上位機種です。
・Cu、Mo、Agから2種類のターゲットを選択した2波長が搭載可能で、より幅広いアプリケーション測定に対応します。
・波長の切替も簡単。測定ソフトウェアCrysAlisPro上の線源ボタンをクリックするだけで、ターゲットおよび光学系が自動的に切り替わります。

回転対陰極線源搭載 超高速・超高精度 単結晶X線構造解析装置

単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム

 

XtaLAB Synergy-R/DWは、XtaLAB Synergyシリーズのマイクロフォーカス回転対陰極型X線線源搭載モデルです。多数の納入実績を持つ高輝度X線発生装置MicroMax007シリーズの最新型MicroMax007HFMRと、新型人工多層膜光学系とを組み合わせた、微小焦点型高輝度X線源 PhotonJet-R/DWを搭載。XtaLAB Synergy-Sの約12倍強力なX線を照射することが可能です。高輝度X線源(PhotonJet-R/DW)、高速・高精度ゴニオメーター、高速読み出しHPC検出器(HyPix-6000HE)を組み合わせることにより、超高速・超高精度測定を実現。自動構造解析と相まって、あなたの研究スピードを加速します。
蛋白質結晶や微小結晶などからの微弱な回折線の測定や、高分解能が必要な精密構造解析の測定にも威力を発揮します。

より強く

  • PhotonJet-R/DWの回転対陰極線源は出力1 .2 kW、実効焦点φ70 μmにより、圧倒的な輝度を実現しています。
  • XtaLAB Synergy-Sに比べ約12倍の強度のX線ビームを照射します。
  • これまで測定を諦めていた10 μm程度の極微小サンプルの測定も可能にします。

より速く

  • 高輝度X線とシャッターレス測定の組み合わせにより、測定時間が大幅に短縮。より多くの試料が測定可能となるため共用装置としても最適です。1試料あたりのランニングコストも下がります。
  • AutoChem3 .0との組み合わせにより、スクリーニングから構造解析までのトータルタイムを大幅に短縮します。
  • 高輝度なX線、高角まで移動可能な2θ軸、高精度な検出器により、精密構造解析の測定にも最適です。
  • XtaLAB Synergy-Sで1週間かかる測定も、 XtaLAB Synergy-Rでは1日足らずで終了します。

より幅広く

  • Cu線源以外にもMo線源、Ag線源の搭載も可能です。高圧・高分解能など、幅広いアプリケーションに対応します。
  • 蛋白質結晶やディスオーダー構造を含む結晶など高角側の回折線が出にくいサンプルも、高輝度X線と1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器の搭載により高角側の回折線を検出することが可能となりました。
  • 高輝度なX線、高角まで移動可能な2θ軸、高精度な検出器により、精密構造解析の測定にも最適です。
  • フィラメント交換に要する時間はわずか45分。高いメンテナンス性によりダウンタイムを最小限に抑えます。

諸元/仕様

製品名 XtaLAB Synergy-R/DW
手法 単結晶X線回折
用途 広範囲の単結晶の高速構造解析
テクノロジー 微小焦点型高輝度X線源 PhotonJet-R
主要コンポーネント 微小焦点型高輝度X線源 PhotonJet-R、HPC検出器(HyPix-6000HE)
オプション オックスフォードCryostreamクーラー、XtalCheck-S
制御(PC) 外部PC, MS Windows® OS, CrysAlisPro ソフトウエアー
本体寸法 1300 (W) x 1875 (H) x 850 (D) (mm)
質量 600 kg (本体)
電源 単相 200-230 V, 20 A

アクセサリー

この製品には次のアクセサリが利用可能です


XtalCheck

手動タイプ PlateMate

  • シンプルかつ軽量で扱いやすいデザイン
    ゴニオメーターヘッドと同じマウント機構を採用。既存のX線回折装置に簡単に取り付けることができます。SBS規格に準拠した結晶化プレートに対応可能で、MiTeGen社製 In Situ–1 Crystallization Plateでの測定に適したデザインです。
  • 簡単かつ正確なセンタリング機構
    水平および垂直方向に搭載した目盛付きのレールに沿って結晶化プレートを動かすことで、すべてのウェルに対して簡単にセンタリングすることができます。また、微調整機構により、微小な結晶であっても正確なセンタリングが可能です。
  • 結晶化プレート中の結晶を測定
    見分けのつきにくいタンパク質結晶と塩・沈殿剤などの結晶を、ドロップ内から取り出すことなく迅速に判別し、さらに分解能などの品質をチェックできます。
  • 構造解析用のデータ収集も可能
    スクリーニング目的のX線回折像取得のみならず、構造解析用の回折強度データの収集も可能です。結晶化溶媒から取り出すだけで損傷してしまうような特殊な結晶も、その環境下で測定できます。

電動タイプ XtalCheck

  • GUIからコントロール
    すべての機能はGUIから操作できます。
    モーター制御により、微小な結晶であっても正確なセンタリングが可能です。また、複数のウェルや、ドロップ内の複数の結晶を事前に指定することで、簡単な操作で複数の結晶を一度に評価できます。
ELement ANalyzer

ELement ANalyzerは単結晶試料の回折測定と元素分析(定性分析)を並行して行える画期的なアタッチメントです。回折測定中に試料から放出される蛍光X線をELement ANalyzerで計測することにより、結晶に含まれている元素を同定します。Mo線源の装置に組み合わせた場合、P(リン)より重い元素であれば、同定することができます*。RAPIDシリーズやSaturnシリーズなどの単結晶X線回折装置に組み合わせることができ、既存の装置を改造することなく取り付けが可能です。錯体の中心金属の有無や種類、結晶溶媒の有無を数分で確認できるため、無駄となる測定を減らし、研究を効率的に進めることができます。また、多核錯体の確認にも威力を発揮します。