NEX DE

少量粉末試料の分析に

粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感度良く分析できます。

粉末Ｘ線回折の補助装置として

リガク製X線分析統合ソフトウェアSmartLab Studio II - PowderXRDプラグインの結晶相自動検索条件設定画面から、NEX DEの測定結果ファイルを読み込むことができます。NEX DEで得られた元素情報が検索条件に反映されます。

Na～Uまで分析が可能

研究開発から工程管理まで汎用的に使用できます。

FP法によるスタンダードレス分析

バルクFP法、薄膜FP法を標準で搭載していますので、標準試料が用意できない試料に対しても簡単に定性・定量分析が行えます。また，通常の検量線法による定量分析も可能です。

場所を選ばず設置可能

AC100V電源のみで稼働し、冷却水は不要。Ｘ線作業主任者の選任も不要です。