昇温脱離ガス光イオン化質量分析装置 TPD type R

• 画期的なイオン化法を採用

フラグメントフリーな光ソフトイオン化方式を採用しました。（特許）

光ソフトイオン化法の原理
光を分子(M)に向けて照射したとき、その光子エネルギー(E=hv)が分子のイオン化エネルギーよりも大きい場合、分子は光電子を放出し、イオン化を起します。
　　　　　M＋hv → M⁺＋e

本装置では、10eV程度の光子エネルギーをもつ真空紫外光を、イオン化源として採用しています。

• 理想的なガス導入インターフェース

ガス導入機構に、ジェットセパレータ原理に基づく二重オリフィス構造のスキマー方式を採用し、高反応性ガスも高感度にキャッチします。（特許）

• イオン化モード選択可能

電子衝撃イオン化（EI）法と光イオン化（PI）法とのモード選択が可能です。

• さまざまな試料形態に対応

粉体、バルク、基板状などさまざまな試料形態に対応しています。

• 正確な温度計測

熱分析専門メーカーとして実績ある温度制御技術により、正確な温度計測を達成しています。

• TICスキャンモードを標準装備

全発生ガスを検出するTICスキャンモードを標準装備していますので、予期せぬ発生ガスも高感度にキャッチします。

• 電子衝撃イオン化（EI）法専用機もラインナップしています。その場合の測定質量範囲（m/z）は1～200です。