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NANOPIX

 

NANOPIXは、実験室系装置として最高レベルの小角分解能(Qmin:~0.02nm-1)を有する小角X線散乱測定装置です。ナノスケール(0.1nm~100nm)の構造評価に最適で、固体、液体、液晶、ゲルなどの規則・不規則構造の分析が可能。ナノ粒子の粒子径分布計測、タンパク質分子の立体構造解析や離合・集散評価、炭素繊維強化樹脂(CFRP)など、ナノスケールの微細構造が高度に制御された先端材料研究などに役立ちます。

ナノスケールX線構造評価装置

最高レベルの小角分解能(Qmin~0.02nm-1)を有する小角X線散乱測定装置

 

圧倒的な輝度と、高い再現性

1,200W出力のポイントフォーカス高輝度X線発生装置「MicroMax-007 HFMR」と、NANOPIXに最適化して設計した長焦点楕円面多層膜ミラー「OptiSAXS」を一体化したビームユニットにより、X線を安定的にφ706µmに収束することが可能になりました。

強度と分解能をバランス良く選択可能

寄生散乱を低減する高性能・低散乱ピンホールスリット「ClearPinhole」により、強度と分解能に優れた2ピンホール光学系を実現しました。さらなる精度を求める測定にあたっては、オプションで3ピンホールのビームユニットも提供します。

高性能2次元半導体検出器を標準搭載

X線検出器には、空間分解能100μm、775×385画素、受光面積77.5 mm×38.5 mmというハイブリッド型多次元ピクセル検出器「HyPix-3000」を標準搭載。より広いダイナミックレンジの測定が必要な場合には、オプションで2モジュール構成の「HyPix-6000」も搭載できます。

測定条件・雰囲気を自在に設定

温度、湿度、力学的変形や動作環境・動作条件下での構造情報が重要になる先端材料開発分野からのニーズにこたえるべく、脱着可能かつ固定可能なキネマティックベースを採用しました。試料セット位置の周囲には広い空間があり、さまざまな試料環境制御装置を自由に設置できる設計になっています。

優れた操作性

使い勝手の良さにも気を配りました。試料やアタッチメント、真空パスなどはすべて簡単に手の届く位置に配置し、容易に着脱できる設計です。試料交換やカメラ長変更に手間をかける必要はなく、手間のかかる真空パスの上げ下ろしも不要にしました。

頻繁な試料アタッチメントの変更を容易に

アタッチメントを自動認識するセンシング機能により、試料アタッチメントの変更を容易に行えるインテリジェントなシステム制御ソフトウェアを搭載しました。

各種アタッチメントを用意

GI-SAXSアタッチメント:すれすれ入射角測定用
示差走査熱量計:小角-DSC同時測定用
延伸ステージ:SAXS/WAXS同時測定用
温湿度:in-situ測定用

アプリケーション

粒子径・粒子径分布・粒子形状、階層構造、溶液散乱/タンパク質溶液散乱、表面構造

諸元/仕様

製品名 NANOPIX
手法 小角および広角X線散乱(SAXS / WAXS)
用途 ナノスケール(0.1nm~100nm)の構造評価
テクノロジー 小角分解能(Qmin:~0.02nm-1
主要コンポーネント OptiSAXS光学系と多次元ピクセル検出器を備えた強力なX線源
オプション GI SAXS、DSC、温度および湿度制御
制御(PC) 外部PC、MS Windows® OS、NANOPIXガイダンス、2DP、SAXS 1D
寸法 構成によって異なります
質量 構成によって異なります
電源 構成によって異なります

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