ZSX Primus IV𝒾
ZSX Primus IVで培ったハード、ソフトの最新技術を基に、更なる性能、機能の向上を実現した下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です.液体試料は試料フィルムを張った試料セルに注ぎ込むだけで容易に測定できます。また、ディスク状の合金、メッキ板、ガラス板などの試料は測定面を下にしてそのまま試料ホルダーに置くだけで容易に測定ができます。加圧成形が困難な粒子状試料、少量試料、破片状小径試料等に対しては、試料セルのフィルムの上にそのままセットし、貴重な試料に試料処理加工をしない測定も容易です。高解像度カメラにより試料画像を観察しながら分析位置指定やマッピング測定ができます。
走査型蛍光X線分析装置
下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置
諸元/仕様
製品名 | ZSX Primus IVi |
手法 | 波長分散蛍光X線分析(WDXRF) |
用途 | 固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析 |
テクノロジー | 走査型 波長分散蛍光X線分析(WDXRF) |
主要コンポーネント | Rhターゲット4kWまたは3kW、 試料交換機最大60試料 |
主なオプション | He置換、r-θ駆動の試料ステージ、ポイント/マッピング分析、試料観察機構 |
制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS、ZSX Guidance ソフトウェア |
本体寸法 | 840 (W) x 1250 (H) x 980 (D) mm |
重量 (本体) | 500 kg |
電源 | 三相 200V、40 A、 50/60 Hz |
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