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HyPix-3000

 

粉末から薄膜解析までを1つの検出器で対応できる、次世代の2次元半導体検出器です。有効検出面積約3,000mm2の大面積、広いダイナミックレンジ、ピクセルサイズ100µmによる優れた位置分解能を実現。バックグラウンドを極限までカットしたノイズフリー測定やシャッターレス測定などにより、高速高分解能測定を実現します。

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器

粉末から薄膜解析までを1つの検出器で対応できる、次世代の2次元半導体検出器

 

0次元/1次元/2次元すべての測定モードをカバー

1台の検出器で2次元だけでなく1次元、0次元検出器としての機能もサポートし、検出器をアプリケーションに応じて交換する必要がありません。粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで、1つの検出器で対応できます。

バックグラウンドを極限までカット

個々のピクセルに2個のコンパレーターが内蔵されており、Low側の閾値は電気ノイズや蛍光X線によるバックグラウンドの上昇を低減し、High 側の閾値は宇宙線や連続線などのノイズとなる原因を除去します。これによりS/Nの優れたデータを取得できます。

広いダイナミックレンジ

2つの16bitデジタルカウンターを内蔵し、これらを結合して1つのカウンターとして動作させることで、31bitの高計数カウンターとして使用することが可能です。この31bitモードにより、広いダイナミックレンジを必要とするような測定であってもアッテネーターを使用せずに測定できます。

優れた位置分解能

ピクセルサイズが100×100µm2と非常に小さいため、優れた位置分解能を実現しています。短時間の1次元測定でも十分な強度の回折パターンを得ることができます。

ゼロデッドタイムで高速測定を実現

2つのカウンターを計数/読み出しと交互に切り替えることにより、データ読み出しにかかるデッドタイムを実質ゼロにできます。そのため、シャッターレス測定による連続した時分割測定が可能となり、in situ(その場)測定にも最適です。

広域逆格子空間マッピングも短時間で完了

露光モードによる2 次元測定の他に、2 次元TDIスキャンによる測定が可能です。この測定では、スキャン中に有効検出面積分のデータが積算されるため、微弱な回折線であっても強度の高い2次元データとして像を得ることができます。この機能を利用することにより、広範囲にわたる逆格子点の情報を高速に測定できます。

諸元/仕様

製品名 HyPix-3000
手法 X線回折(XRD)
用途 高速・高感度のフォトンカウンティング検出器
テクノロジー 広いダイナミックレンジ、ピクセルサイズ100µmによる優れた位置分解能
主要コンポーネント 高位置分解能ピクセルアレイ検出器
オプション  
制御(PC) 外部PC、MS Windows® OS
本体寸法 147 (W) x 93 (H) x 180 (D) (mm) 
質量 約 2 kg(本体)
電源 単相 100-240 V, 15 A