経験がなくてもさまざまな粉末Ｘ線回折測定ができる

強力なユーザーガイダンス機能を備えたＸ線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が、測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末Ｘ線回折測定が可能です。

広角粉末Ｘ線回折プロファイルをわずか数分で測定

高分解能・高速1次元Ｘ線検出器D/teX Ultra 250を搭載したエントリーモデルは、高速集中法測定に対応しています。バックグラウンドレベルを抑えた測定が可能で、強度積算効果により微量成分の検出も容易です。

2次元Ｘ線回折測定で拡がる世界

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400を搭載した上位モデルは、微小部やIn-situ測定に対応しています。さらに、粒径や配向といった試料状態の情報が容易に取得できます。今まで気づかなかったことが、粉末Ｘ線回折測定で得られる知見の幅を大きく拡げます。

あらゆる測定シーンに対応

光学系選択ユニット（Cross Beam Optics）と光学系・試料位置自動調整プログラムが、簡単、かつ迅速な光学系切り替えを実現します。分析の目的や試料の形状jに応じて、最適な光学系・アタッチメントを選択できます。

さまざまなアプリケーションを実現

反射法・透過法による測定、ポリキャピラリを用いた微小領域測定、小角Ｘ線散乱測定、残留応力・極図形測定など、さまざまなアプリケーションを実現する多彩な光学系配置を用意しました。SmartLab SEはそれらの光学系調整も自動で実現します。

統一された操作性によるスムーズな分析環境を実現

「SmartLab Studio II」により、分析に必要な光学系管理や測定といった装置制御からデータ解析まで、一つのソフトウェア上で行えます。光学系のセンシング、ガイダンス機能、フローバーによるナビゲーションなど、ユーザーの使い勝手が大きく向上しています。

豊富なアタッチメント・試料ホルダー

6試料自動交換機、10試料自動交換機、キャピラリ回転試料台、αβアタッチメント、電池セルアタッチメント、各種温調アタッチメント、汎用雰囲気セパレーター、無反射試料ホルダー、透過法用試料ホルダーなどを用意しています。