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SmartLab SE

 

粉末試料のプロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末X線回折測定を誰でも分かりやすく行えるようにした全自動多目的X線回折装置です。リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現。簡単に最高の測定結果が得られます。
1次元検出器を搭載した集中法光学系専用のエントリーモデル、2次元検出器を搭載し、微小部・In-situ測定にも対応した上位モデルからお選びいただけます。

全自動多目的X線回折装置

リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現

 

経験がなくてもさまざまな粉末X線回折測定ができる

強力なユーザーガイダンス機能を備えたX線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が、測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末X線回折測定が可能です。

広角粉末X線回折プロファイルをわずか数分で測定

高分解能・高速1次元X線検出器D/teX Ultra 250を搭載したエントリーモデルは、高速集中法測定に対応しています。バックグラウンドレベルを抑えた測定が可能で、強度積算効果により微量成分の検出も容易です。

2次元X線回折測定で拡がる世界

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400を搭載した上位モデルは、微小部やIn-situ測定に対応しています。さらに、粒径や配向といった試料状態の情報が容易に取得できます。今まで気づかなかったことが、粉末X線回折測定で得られる知見の幅を大きく拡げます。

あらゆる測定シーンに対応

光学系選択ユニット(Cross Beam Optics)と光学系・試料位置自動調整プログラムが、簡単、かつ迅速な光学系切り替えを実現します。分析の目的や試料の形状jに応じて、最適な光学系・アタッチメントを選択できます。

さまざまなアプリケーションを実現

反射法・透過法による測定、ポリキャピラリを用いた微小領域測定、小角X線散乱測定、残留応力・極図形測定など、さまざまなアプリケーションを実現する多彩な光学系配置を用意しました。SmartLab SEはそれらの光学系調整も自動で実現します。

統一された操作性によるスムーズな分析環境を実現

「SmartLab Studio II」により、分析に必要な光学系管理や測定といった装置制御からデータ解析まで、一つのソフトウェア上で行えます。光学系のセンシング、ガイダンス機能、フローバーによるナビゲーションなど、ユーザーの使い勝手が大きく向上しています。

豊富なアタッチメント・試料ホルダー

6試料自動交換機、10試料自動交換機、キャピラリ回転試料台、αβアタッチメント、電池セルアタッチメント、各種温調アタッチメント、汎用雰囲気セパレーター、無反射試料ホルダー、透過法用試料ホルダーなどを用意しています。

諸元/仕様

製品名 SmartLab SE
手法 X線回折(XRD)
用途 粉末回折、薄膜回折、SAXS、極図形、残留応力および温度・雰囲気制御測定
テクノロジー ユーザーガイダンスを搭載した全自動多目的θ-θ X線回折装置
主要コンポーネント 3 kW封入管式X線管、高分解能・高速1次元X線検出器D/teX Ultra 250またはハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400、θ-θ型試料水平高精度ゴニオメーター
オプション  
制御(PC) 外部PC、MS Windows® OS、SmartLab Studio IIソフトウェア
本体寸法 1270 (W) x 1880 (H) x 1220 (D) mm
質量 約 800 kg(本体)
電源 三相 200 VAC 50/60 Hz 30 A または 単相 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A,