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Ultima IV

 

粉末試料測定専用のエントリーモデルからハイエンドの薄膜試料測定システムまでを、ビルドアップ(機能拡張)方式により構築可能な、試料水平型多目的X線回折装置 です。薬品、セラミックス、触媒などの工業材料の品質管理から、有機薄膜、磁性材、半導体薄膜などの先端材料の研究開発まで、幅広く支援します。

 

材料分析における粉末X線回折法

本書では、結晶構造と結晶組織、そしてX線分析装置について詳細な解説がなされています。

「材料分析における粉末X線回折法」好評発売中
https://japan.rigaku.com/ja/support/xrd_book

試料水平型多目的X線回折装置

ビルドアップ(機能拡張)方式により構築可能な、試料水平型多目的X線回折装置

 

ビルドアップ方式

粉末試料測定専用から薄膜/小角粒径/微小・微量測定用まで、必要に応じて多様なシステムを構築できます。

CBO(Cross Beam Optics)/クロスビームオプティクス

集中法/多層膜ミラー平行ビーム光学系の切替が容易で、集中法・平行ビーム・小角・微小部・高分解能の5種類の光学系に対応できるCBOユニットを搭載可能です。特許(日本):第3548556号

新型微小部光学系

微小・微量測定に威力を発揮する新型微小部光学系を装備可能です。

新型高速X線検出器 D/teX Ultra

当社従来比100倍の高速測定ができる、高計数率・高エネルギー分解能・低ノイズの新型高速X線検出器を搭載可能です。

人間工学に基いた設計

試料セット位置を下げ、ドア開口部から試料までのアクセス距離を大幅に縮小したことにより、操作性が大きく向上。試料交換、アタッチメントの着脱はもちろんのこと、光学系の交換も極めて容易です。

コンパクト設計

従来機に比較して容積比50%、重量比80%。省スペース・軽量で、設置場所を選びません。

安全性

最新の国際安全規格に則り、インターロック方式によるX線に対する安全性を確保、また、装置正面右下に配置された緊急停止スイッチを装備しています。

諸元/仕様

製品名 Ultima IV
手法 X線回折(XRD)
用途 粉末回折、薄膜回折、SAXS、極図形、インプレーンおよび温度・雰囲気制御測定
テクノロジー 多目的 θ-θ 試料水平型強力X線回折装置
主要コンポーネント 3 kW封入型X線管、高速1次元X線検出器D/teX Ultra、独立型 θ-θ ゴニオメーター
オプション 多数のアタッチメント、10試料自動交換装置、その他のサンプルホルダー
制御(PC) 外部PC、MS Windows® OS、PDXLソフトウェア
本体寸法 1100 (W) x 1600 (H) x 80 (D) mm
質量 約 700  kg(本体)
電源 三相 200 VAC 50/60 Hz 30 A または 単相 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A,