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リートベルト解析

リートベルト解析

全回折パターンフィッティングによるXRD結晶構造解析

Hugo Rietveldによって発明された全回折パターンフィッティングによる構造精密化は、単結晶が得られないあらゆる結晶材料の構造解析のための非常に有用な方法として広く認められています。 X線回折(XRD)におけるリートベルト解析は、蛍光X線(XRF)におけるファンダメンタルパラメータ法(FP法)に似ています。

このソフトウェアアプローチでは、計算された回折パターンを導き出すために、格子定数、ピークの幅と形状、優先方位等のさまざまなパラメータを精密化します。 導き出されたパターンが未知のサンプルデータとほぼ同一になると、正確な定量的情報、微結晶サイズ、サイト占有率といったそのサンプルに関連するさまざまな特性が得られます。 パターンを精密化するプロセスは大きなコンピュータ計算力を要するものであり、多成分混合物についての結果を計算するのに数分を要します。 リートベルト解析は、±1%以内の正確な結果を得るのにも標準試料が不要であるという特徴があり、従来の定量方法に対する利点となっています。 この進歩の以前には、粉末回折を用いて複雑な物質に対する正確な定量的位相分析を標準試料なしで行うことはほとんど不可能でした。

リガクの関連装置

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