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小角X線散乱(SAXS)

小角X線散乱(SAXS)

ナノスケール材料の形状と構造を調べる

International Union of Crystallography

 

小角X線散乱(SAXS)は小角散乱技術のひとつであり、試料中のナノスケールの密度差を定量化することができます。 これは、ナノ粒子サイズ分布の決定、(単分散の)巨大分子のサイズおよび形状の決定、空孔サイズの決定、構造乱れのある材料の特徴的な距離の決定などに利用できることを意味します。 実際的には、材料を通過するときのX線の弾性散乱挙動を分析し、それらの散乱を小さい角度(典型的には0.1 - 10°)で記録することによって行います。SAXSは、平均粒径、形状、分布、および表面対体積比などのパラメータの形で、粒子系のマイクロスケールまたはナノスケール構造を決定するために使用されます。 材試料は固体でも液体でもよく、その中に固体、液体または気体のドメイン(いわゆる粒子)が含まれていてもよく、含まれる粒子は同じ材料でも異なる材料でも、どのような組み合わせでも測定できます。 粒子だけでなく、ラメラのような秩序構造やフラクタルのような物質の構造も調べることができます。 SAXSは正確かつ非破壊的な手法であり、また通常、必要な試料調製も非常にシンプルです。 用途は非常に広く、あらゆる種類のコロイド、金属、セメント、油、ポリマー、プラスチック、タンパク質、食品および医薬品などにわたります。SAXS装置は、研究用途だけでなく、品質管理用途でも利用されています。

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