小角Ｘ線散乱を用いた高分子材料の評価手法および小角X線散乱装置で測定したアプリケーションをご紹介致します。
Presenter
尾本 和樹 （株式会社リガク Ｘ線機器事業部）
Date/time (JST)
講義：16:00～16:45（質疑応答含む）
開催言語：日本語
定員:500名（無料：事前登録制）
小角Ｘ線散乱を用いた高分子材料の評価手法および小角X線散乱装置で測定したアプリケーションをご紹介致します。
講義：16:00～16:45（質疑応答含む）
開催言語：日本語
定員:500名（無料：事前登録制）