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最新分析セミナー(電子部品)『 SmartLabによる化合物半導体薄膜材料評価 』

X線回折装置”SmartLab”を使用した化合物半導体薄膜材料の評価に関して、各種測定から解析までの手順をデモンストレーション形式でご紹介いたします。専用ソフトウエア”SmartLab StudioII”を使用した測定マクロの作成や解析の仕方についてご説明いたします。

Presenter
小林 信太郎(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
Date/time (JST)

講義:11:00~11:45 講演(質疑応答含む)
開催言語:日本語
定員:500名(無料:事前登録制)