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蛍光X線分析セミナー『 蛍光X線分析による金属試料分析 試料処理~日常管理まで 』

蛍光X線分析法を用いた検量線法による金属試料分析において、試料処理における注意点と検量線作成後の検量線の管理方法や日常の分析値管理方法を中心に、実際の分析ソフトでの設定方法などを交えながらご説明いたします。

Presenter
上村 奨平(株式会社リガク X線機器事業部 SBU WDX 大阪分析センター)
Date/time (JST)

講義:14:00~14:45(質疑応答含む)
開催言語:日本語
定員:500名(無料:事前登録制)