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薄膜評価セミナー『 薄膜、単結晶基板の結晶性評価 ~ X線ロッキングカーブ測定のポイント ~ 』

X線ロッキングカーブによる結晶性評価を正確に行うための要点をご紹介します。
適切な反射指数や光学系の選択方法、結晶方位合わせの手順など、実際に測定を行う上での注意点についてご説明します。

Presenter
原 智美(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
Date/time (JST)

講義:11:00~11:45 講演(質疑応答含む)
開催言語:日本語
定員:500名(無料:事前登録制)