一般的に用いられる反射法は、試料が有する選択配向の影響を大きく受けますが、透過法では、その影響を抑制した回折プロファイルを得ることができます。本講演では、反射法と透過法の基礎と透過法を用いた測定事例をご紹介します。 Presenter 山本 泰司(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター) 参加登録:zoom社webinar登録画面へ遷移します。 Date/time (JST) 2023年2月22日 - 15:00 Convert 講義:15:00~15:40(質疑応答10分程度を含む) 開催言語:日本語 定員:500名(無料:事前登録制)