Skip to main content

蛍光X線分析セミナー『蛍光X線分析の基礎 その3』

波長分散型蛍光X線装置(走査型)を用いた定量分析について説明します。定量分析の基礎、検量線法、共存元素の影響とその補正方法についてご紹介いたします。

Presenter
円子 友理(株式会社リガク X線機器事業部 SBU WDX 大阪分析センター)
Date/time (JST)

講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
開催言語:日本語
定員:500名(無料:事前登録制)