NEX CG II は、リガクの偏光光学系EDX NEX CGをベースに開発した、次世代のハイエンドEDXです。オイル、水溶液、土壌、金属、ポリマー、ペースト、フィルム、コーティングなど様々な試料に対し、微量成分及び主成分元素の定性分析、定量分析ができます。
最新のSDD検出器の搭載による高感度化（従来比最大5倍）により、多くの産業で需要が高まっている微量重金属やハロゲン元素の分析要求に確実に応える1 ppm未満のLLD（検出下限）を実現しました。
特に軽元素（ナトリウム、リン、硫黄、塩素など）、重金属の検出下限に優れることから、環境分析や産業廃棄物、リサイクル原料、電子部品材料、医薬品、化粧品等における原料受入や工程管理、研究開発に適しています。
さらにユーザーフレンドリーなソフトウェアにより、測定条件設定、分析操作が簡単に行え、現場で容易に高感度分析が実現できます。

微量成分元素分析へのアプローチ

NEX CG II 最大の特長である偏光光学系は、X線源・2次ターゲット・検出器を3次元的に配置することで分析の妨害となるバックグラウンドX線を抑制し、通常では埋もれてしまう微小なピークが検出できます。
一般的なEDX（直接励起システム）とは異なり、NEX CG II は2次ターゲットによる間接励起システムです。2次ターゲットを使用し、各元素に適した励起条件で分析します。また偏光光学系はバックグラウンドの要因となる散乱X線を除去します。NEX CG II は50 kV(50 W)エンドウィンドウX線管、ナトリウムからウラン（Na-U）をカバーする2次ターゲット、高速SDD検出器と偏光光学系の組み合わせにより高い分析性能を実現します。

EDX用　高機能ソフトウェアQuantEZ

NEX CG II のソフトウェアは、シンプルなメニュー、らくらく分析、アプリケーション作成フローバーにより、蛍光X線の詳細な知識や、煩雑な操作を必要としません。
リガクのFP定量プログラムRPF-SQXは様々な試料に対して標準試料不要のスタンダードレス分析が行えます。固体、液体の元素分析だけでなく、メッキなどの薄膜の厚みも分析できます。また、散乱線FP法により、測定対象の成分以外（H～Fのトータルの含有率）を自動推定し、測定対象成分以外の情報を必要とせず、正確な分析結果が得られます。汚泥、スケール、廃油、岩石、フライアッシュ、植物など試料形態を問いません。
マッチングライブラリ機能により、FP法用の感度をお客様のルーティンワークに合わせて簡単に較正できます。基準となる標準試料は1点から対応できます。検量線法のように多点での較正も可能です。